?把各種測(cè)量集成到器件特性分析中最困難的問(wèn)題之一,是每種測(cè)量類(lèi)型基本上都要求不同的線纜。選擇與測(cè)量類(lèi)型配套的線纜增強(qiáng)了測(cè)量完整性。但是,改變每種測(cè)量類(lèi)型的電纜耗時(shí)很長(zhǎng),許多用戶(hù)只能接受次優(yōu)結(jié)果。此外,在重新連接電纜時(shí),用戶(hù)會(huì)面臨電纜重連不正確的風(fēng)險(xiǎn),進(jìn)而導(dǎo)致錯(cuò)誤,需要額外的調(diào)試時(shí)間。更糟糕的是,這些錯(cuò)誤在很長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)都可能注意不到。下面就隨測(cè)試測(cè)量小編一起來(lái)了解一下相關(guān)內(nèi)容吧。
針對(duì)這些開(kāi)關(guān)測(cè)試的困擾,泰克圍繞客戶(hù)應(yīng)用需求進(jìn)行創(chuàng)新,其新型吉時(shí)利高速度、高完整性開(kāi)關(guān)解決方案幫助客戶(hù)輕松完成復(fù)雜測(cè)試。4200A-CVIV多通道開(kāi)關(guān)在I-V測(cè)量和C-V測(cè)量之間自動(dòng)切換,C-V測(cè)量可以移動(dòng)到任何輸出通道上,而不需重新布線。這種4通道開(kāi)關(guān)允許用戶(hù)在I-V和C-V測(cè)試期間保持相同的阻抗,可以把探針保留在晶圓測(cè)試站上。另外,用戶(hù)不需要改變測(cè)試設(shè)置和電纜連接,從而增強(qiáng)測(cè)量的準(zhǔn)確性。
雙像素二極管特性分析應(yīng)用
伯克利國(guó)家實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)器部門(mén)的科研人員正在開(kāi)發(fā)更高效的硅檢測(cè)器,用來(lái)監(jiān)測(cè)空基應(yīng)用中使用的各種放射信號(hào),如X射線。其檢測(cè)器是一種雙像素二極管傳感器。雙像素二極管由兩個(gè)PIN二極管組成,每個(gè)二極管的陽(yáng)極相連。開(kāi)發(fā)工作包括在工廠鑄造晶圓。晶圓鑄造工藝一般要求在晶圓制作的各個(gè)階段及在晶圓完工時(shí)進(jìn)行測(cè)試,以保證工藝完整性,確保原型器件滿足設(shè)計(jì)規(guī)范。
典型的器件特性分析包括在高達(dá)100V和CV (電容-電壓)的正向和逆向偏置條件下分析IV特性。由于器件是雙二極管排列,因此每個(gè)器件要執(zhí)行兩次IV和CV測(cè)試,一對(duì)二極管中每個(gè)二極管測(cè)試一次。在使用老式測(cè)試配置和設(shè)備時(shí),整個(gè)器件特性分析中每個(gè)器件需要長(zhǎng)達(dá)10分鐘才能完成IV和CV測(cè)試。
將老式IV/CV測(cè)試設(shè)備換上吉時(shí)利Model 4200A和最新CVIV多開(kāi)關(guān)后,客戶(hù)的測(cè)試時(shí)間明顯縮短,因?yàn)椴恍枰獮槊糠N測(cè)試類(lèi)型手動(dòng)重新配置測(cè)試,大大改善了數(shù)據(jù)采集和管理工作。
通過(guò)利用4200A-CVIV多開(kāi)關(guān)來(lái)消除測(cè)試站重新配置,并在Clarius測(cè)試軟件內(nèi)部綜合執(zhí)行所有測(cè)試,總體測(cè)試時(shí)間從6分鐘縮短到僅12秒。盡管這不是生產(chǎn)環(huán)境,但測(cè)試時(shí)間縮短到幾秒仍令科研人員非常高興,因?yàn)樗麄兛梢园阎攸c(diǎn)放在研究上,更快地了解器件特點(diǎn)。
4200A-CVIV多開(kāi)關(guān)使測(cè)試時(shí)間縮短30倍
使用傳統(tǒng)設(shè)備所需的測(cè)試時(shí)間與使用4200A-SCS參數(shù)分析儀及CVIV多開(kāi)關(guān)所需的測(cè)試時(shí)間。
泰克高性能4200A-SCS 是一個(gè)模塊化、可定制、高度一體化的參數(shù)分析儀,可同時(shí)進(jìn)行電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 電學(xué)測(cè)試。使用其可選的 4200A-CVIV 多通道開(kāi)關(guān)模塊,可輕松地在 I-V 和 C-V 測(cè)量之間切換,而無(wú)需重新布線或抬起探針。4200A-SCS參數(shù)分析儀可大大加快客戶(hù)的測(cè)試速度,廣泛用于材料研究、半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)、工藝開(kāi)發(fā)或生產(chǎn)的復(fù)雜器件。
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以上是關(guān)于測(cè)試測(cè)量中-4200A-CVIV多開(kāi)關(guān)使測(cè)試時(shí)間縮短30倍的相關(guān)介紹,如果想要了解更多相關(guān)信息,請(qǐng)多多關(guān)注eeworld,eeworld電子工程將給大家提供更全、更詳細(xì)、更新的資訊信息。
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